可四端子2極對壓測量膜片不同壓力下的電阻率、厚度
可四端子2極對壓測量粉體材料不同壓力下的電阻率、壓實(shí)密度
可四探針法測量膜片的電阻率
可四探針法測量粉體材料不同壓力下的電阻率、壓實(shí)密度
各種測試切換快速簡便
電阻精度可到微歐級,厚度測量精度可到亞微米級
膜片、粉體材料都可測試
四探針和2極法在一臺機(jī)上實(shí)現(xiàn)
參數(shù)\型號 | MFDZ-1TDCR | MFDZ-5TDCR | MFDZ-1TACR |
壓力 kg | 1000 | 5000 | 1000 |
電阻范圍 | 0.1uΩ~1000MΩ | 交流0.1μΩ~3KΩ | |
厚度分辨率 | 0.01um | ||
厚度精度 | ±0.5um | ||
電阻精度 | 0.05%FS | 0.5%FS | |
壓力精度 | 0.5%FS | ||
樣品形態(tài) | 片料、粉體、膜片、塊料 | ||
四探針 | 有 | ||
四線2端子 | 有 | ||
面電阻 | 有 | ||
壓實(shí)密度 | 有 |
1、1#和2#粉體為同種不同批次材料,從電阻率vs 壓強(qiáng)曲線2者重合,但對數(shù)據(jù)分析,2#的變異系數(shù)更低,說明2#批次的工藝條件更穩(wěn)定。
2、膜片測試數(shù)據(jù)
膜片不同位置的電阻率壓強(qiáng)曲線
3、標(biāo)準(zhǔn)塊厚度和電阻重復(fù)性測試數(shù)據(jù)
重復(fù)測量20次厚度數(shù)據(jù)評估
重復(fù)測量20次電阻數(shù)據(jù)評估
1、用于電池配方設(shè)計(jì)和優(yōu)化,通過測不同膜片電阻率評估配方優(yōu)劣,添加劑含量是否合適,無需做成電池來評估,可加快電池的設(shè)計(jì)迭代。
2、改進(jìn)攪拌涂布工藝。可通過膜片電阻率和厚度測量評估漿料是否分散均勻,沉降狀況、涂布烘烤是否合理。
3、制定電池生產(chǎn)的工藝時(shí)間,如極片在大氣環(huán)境中儲存時(shí)間與電阻率的變化關(guān)系,從而確定極片在生產(chǎn)線允許保存的時(shí)間。
4、測量固態(tài)電解質(zhì)壓力下的電阻率,為優(yōu)化固態(tài)電解質(zhì)提供方向.
5、優(yōu)化粉體材料的生產(chǎn)工藝,監(jiān)控粉體材料的生產(chǎn)品質(zhì)。